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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 250 是一款高性能、結構緊湊且應用廣泛的X射線測量儀，專為無損涂層厚度測量與材料分析而設計。該儀器尤其適用于測量極薄涂層，即使面對成分復雜或濃度極低的樣品，依然表現出的分析能力。

典型應用領域包括：

電子與半導體行業(yè)：測量從幾納米起始的功能性鍍層

消費者安全檢測：如玩具中鉛等有害元素的痕量分析

珠寶、鐘表制造及貴金屬精煉：高精度合金成分分析

高校科研與工業(yè)研發(fā)：支持多樣化的材料研究需求

XAN 250 配備可電動調節(jié)的準直器孔徑和初級濾光片，可根據不同樣品靈活配置，為每次測量提供理想的激發(fā)條件。先進的硅漂移探測器（SDD）確保了高分辨率、高精度以及優(yōu)異的檢測靈敏度。

所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 系列儀器均以出色的測量精度和長期穩(wěn)定性著稱。得益于其穩(wěn)定的性能，儀器的重新校準周期顯著延長，有效節(jié)省了維護時間與成本。對于高精度要求的應用，用戶仍可隨時執(zhí)行校準操作。

此外，Fischer 的基本參數法（Fundamental Parameters Method），使儀器能夠在無需標準樣品校準的情況下，準確分析固體、液體以及多層涂層系統，極大提升了使用的靈活性與效率。