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泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 的測量原理是基于精密的機械傳感與數字化數據處理。具體如下：

機械傳感：儀器通過耐磨的金剛石測針和精密機動驅動裝置，帶動測針沿被測表面水平等速滑行。當測針劃過表面波峰和波谷時，會產生垂直位移，高靈敏度壓電傳感器捕捉該位移，并通過壓電效應將其轉化為電信號。

數字化處理：產生的電信號經模數轉換等處理后變為數字信號，傳輸至微處理器。微處理器依據國際標準制定的算法（如 ISO 4287）對數字信號進行分析計算，得出表面粗糙度參數，最終在液晶顯示器上顯示測量結果，也可通過打印機輸出或與 PC 機通訊傳輸數據。

其常用的測量參數包括幅值參數、間距參數和混合參數，具體介紹如下：

幅值參數：用于描述表面偏差的垂直特征。如 Ra 是算術平均值偏差，反映輪廓的平均高度變化；Rz 為平均峰谷高度，體現了一定測量長度內峰谷高度的平均值；Rt 是輪廓總高度，指輪廓上高點到低點的距離。

間距參數：主要測量表面偏差的水平特征。其中 RPc 表示峰數量，可反映表面峰的密集程度；RSm 是輪廓元素的平均寬度，能體現輪廓上各元素在水平方向的平均寬度情況。

混合參數：是間距和幅值參數的組合。例如 Rmr 為材料支撐比，用于評估表面在不同高度下的材料分布情況，對分析零件的耐磨性等性能有重要作用；Rda - R Delta a（算術平均斜率）則綜合了輪廓的斜率信息，可輔助判斷表面的紋理特征等。